Hjem > Nyheder > Indhold

Tillykke til NANO tekniske konference afholdt med succes

Nov 14, 2016

NANO metrologi afholdt den tekniske konference på 9thNov. med succes. Mere end 150 personer deltage i konferencen. Fulgt er hovedselskab navneliste.

Air Kina magt CorpKlinge Center
Måling CenterKvalitetsafdelingen
KontroltjenestePlads måling
Fareast gruppeKeian gruppe


Log på

Bussiness Manager at indføre NANO udvikling

measuring machine

Ingeniør fra Renishaw at indføre sonde

high accuracy measuring equipment renishaw probe head system

Ingeniør fra til eksterne-Array indføre RationalDMIS og Modus SW

 practice measuring solutionsbridge type CMM

Tekniske udveksling

 gantry type coordinate measuring machine

 gear center arm measuring machine


Oplys venligst os, hvis der er spørgsmål eller rådgivning

E-mail:Overseas@CMM-Nano.com